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| META0040-1 | Modern Microscopic Analysis Techniques in Material Sciences
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| Duration : | 15h Th, 15h Pr |
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| Holder(s) : | Jacqueline Lecomte‑Beckers |
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| Language : | Langue française |
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| Course contents : | 1. Introduction. 2. Détecteurs d'électrons secondaires utilisés dans la technique ESEM (microscopie environnementale). Cas pratiques d'applications 3. Aspect physique de la diffraction électronique. Approximation cinématique et fonction généralisée de Patterson. Diffraction par un cristal parfait (conditions de Laue et de Bragg). Diffraction par un cristal imparfait. Transformée de Fourier et diffraction. Effets dynamiques. Cas pratiques d'applications. 4. Spectrométrie de Rayons X. Physique de Rayons X. Analyse quantitative. Cas pratiques d'applications. 5. Microscopie à force atomique. Aspects théoriques. Cas pratiques d'applications.
6. Microanalyse d'ions secondaires. Aspects théoriques. Cas pratiques d'applications. 7. Importance de la préparation des échantillons. |
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| Course objective : | comprendre les techniques utilisées et la manipulation des appareils |
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| Prerequisites : | aucun |
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| Workshops : | visites d'installations et manipulations |
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| Organization : | 5 X 3 heures de cours |
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| Written notes : | oui |
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| Assessment : | examen oral |
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| Contacts : | J. LECOMTE-BECKERS - e-mail Jacqueline.Lecomte@ulg.ac.be - Tél. 04/366 91 93 |
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